高强度瓷绝缘子的矿物组成和显微结构研究


Autoria(s): 石莉
Data(s)

18/05/2009

Resumo

以矿物学理论为基础,采用XRD、AAS、TEM和OM等分析仪器,对国产70kN、日本120kN和210kN高强度瓷绝缘子的化学成分、显微结构等特征进行了分析,找出造成国内外瓷绝缘子性能差异的主要因素。并对贵州地区的高强瓷非金属矿物原料进行了较系统的矿物学研究,确定了6个主要原料基地。在以上研究的基础上,优化设计了420kN和300kN高强度瓷绝缘子的配方及相关生产工艺。并对烧结出420kN高强度瓷绝缘子的化学成分与显微结构进行了研究分析。得到的主要结论如下: (1)对比国内外高强瓷得出,造成国内高强瓷性能差的主要因素是化学成分和显微结构。国内70kN样品含有较高的K2O和TiO2,严重超过了高强瓷标准配方值,而国外配方恰好落在标准值范围内;国内70kN样品晶相含量仅为35%,而国外210kN样品的晶相含量为48%,且晶粒细小分布均匀,玻璃相和气孔相含量也比国内产品少且分布均匀。 (2)采用XRD对贵州地区矿物原料进行分析,最终选定了毕节、大方6个高强瓷原材料产地。这些基地粘土类矿物原料,具有可塑性好,有害矿物含量少,化学成分中Si、Al比适中,Fe、Ti等杂质元素含量低的特点;铝氧类矿物具有含Al2O3含量高且杂质元素少的特点,是制备高强度瓷绝缘子的优质原料。 (3)在主要使用贵州所产的矿物原料基础上,结合国内外高强瓷的性能差异,优化设计了300kN和420kN高强瓷的配方和工艺。其中将坯料的颗粒度组成设定在:≥5µm43-48%,≥10µm25-31%,≥20µm5-12%,并采用合理烧结制度下烧结出420kN高强瓷,其烧结温度范围在13001400℃,最终产品通过IEC检测且显微结构较好。

Identificador

http://ir.gyig.ac.cn/handle/352002/3502

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/179105

Idioma(s)

中文

Fonte

高强度瓷绝缘子的矿物组成和显微结构研究.石莉[d].中国科学院地球化学研究所,2009.20-25

Palavras-Chave #高强度瓷绝缘子 #矿物组成 #化学成分 #显微结构 #机电性能
Tipo

学位论文