高温高压下叶蜡石脱水电学性质的阻抗谱分析


Autoria(s): 代立东; 李和平; 苏根利; 单双明; 崔桐娣; 许祖鸣
Data(s)

2005

Resumo

在1.0、2.0GPa和873~1223K的温压条件下,借助于1260阻抗一增益相位分析仪测定了叶蜡石的电导率,并用阻抗谱原理分析了其微观导电机制。实验结果表明:样品的电导率对频率具有很强的依赖性;电阻率随着温度的升高而减小,电导率随着温度升高而增大,logσ与1/T之间符合Arrenhius线性关系;叶蜡石在1.0GPa和2.0GPa的压力下脱水温度分别为1074K和1101K。根据本次获得的电导率实验结果并结合前人对滑石族所做的工作,得出了与前人不同的结论:滑石族矿物脱水电导率曲线出现了转折点。

Identificador

http://ir.gyig.ac.cn/handle/352002/4065

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/177257

Idioma(s)

中文

Fonte

代立东,李和平,苏根利,单双明,崔桐娣,许祖鸣.高温高压下叶蜡石脱水电学性质的阻抗谱分析.岩石矿物学杂志,2005,24(3):216-220

Palavras-Chave #地球深部物质与流体作用地球化学 #叶蜡石 #高温高压 #电导率 #阻抗谱
Tipo

期刊论文