高温高压下叶蜡石脱水电导率实验


Autoria(s): 代立东; 李和平; 刘丛强; 苏根利; 崔桐娣; 单双明; 杨昌君; 刘庆友
Data(s)

2005

Resumo

在压力为1.0-4.0GPa、温度为873-1223K下采用Sarltron-1260阻抗/增益一相位阻抗谱分析仪测定了叶蜡石的电导率。实验结果表明,电导率与温度间的关系符合Arrenhius关系式;叶蜡石的脱水引起电导率的突然变化,使电导率急剧上升;脱水前,电导率随着压力增大而减小,其导电机制为电子导电;脱水后,电导率随着压力增大而增大,其导电机制为离子导电.

国家自然科学基金资助项目(49674221);中国科学院知识创新重要方向项目(KZCX3-SW-124)

Identificador

http://ir.gyig.ac.cn/handle/352002/4063

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/177255

Idioma(s)

中文

Fonte

代立东,李和平,刘丛强,苏根利,崔桐娣,单双明,杨昌君,刘庆友.高温高压下叶蜡石脱水电导率实验.地质科技情报,2005,24(3):35-37

Palavras-Chave #地球深部物质与流体作用地球化学 #叶蜡石 #高温高压 #电导率 #脱水作用
Tipo

期刊论文