BIST技术及其在Memory中的应用
| Data(s) |
2003
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|---|---|
| Resumo |
阐述内建自检测(BIST)技术的特点、结构和原理,并介绍其在Memory单元电路中的实现过程。 <div> We expound the techniques ,structure and principle of BIST. Then,we illustrate the design process in <span style="font-size: 12px;">Memory with BIST.</span></div> |
| Identificador | |
| Idioma(s) |
中文 |
| Palavras-Chave | #内建自检测 #线性反馈移位寄存器 #特征分析 #Memory |
| Tipo |
期刊论文 |
