γ辐照掺杂SiO_2的ESR研究


Autoria(s): 刘雅言; 詹瑞云; 曲淑华
Data(s)

1989

Resumo

分别掺有磷和硼的二氧化硅经γ辐照后产生多种顺磁性中心,ESR研究指出氧空穴O~-主要稳定在杂质离子附近.O_2~-自由基稳定在Si离子上.F心的研究认为氧缺位俘获电子存在一个动态平衡过程.

Identificador

http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/40603

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/164675

Idioma(s)

中文

Fonte

刘雅言;詹瑞云;曲淑华 .γ辐照掺杂SiO_2的ESR研究 ,波谱学杂志 ,1989,6 (1 ):35-40

Palavras-Chave #SiO_2掺杂 #γ辐照 #ESR #O~-空穴中心 #O_2~-自由基 #F色心
Tipo

期刊论文