用XPS、SIMS对稀土-6063铝合金表面状态的研究


Autoria(s): 胡刚; 赵敏寿; 吕翔平
Data(s)

1990

Resumo

用X射线光电子能谱(XPS)和二次离子质谱仪(SIMS)等表面分析方法对稀土-6063铝合金进行了研究,发现稀土铝合金的表面为金属铝和铝的氧化物两种形态。稀土及镁两者的协同作用,可以缓和铝合金的氧化程度。SIMS结果表明,加入适量稀土,可以抑制镁在稀土-6063铝合金的表面偏析作用。

Identificador

http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/39931

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/164339

Idioma(s)

中文

Fonte

胡刚;赵敏寿;吕翔平 .用XPS、SIMS对稀土-6063铝合金表面状态的研究 ,中国稀土学报 ,1990,8(4):346-349

Tipo

期刊论文