聚乙烯片晶辐照破坏机理的电子显微镜研究


Autoria(s): 王国英; 张皓瑜; 姜炳政
Data(s)

1990

Resumo

用透射电子显微镜观察了高密度辐照聚乙烯的形态结构,并通过统计方法定量地分析了其结构与辐照剂量的关系。发现室温辐照聚乙烯的片晶形态不随辐照剂量而变化。若将室温辐照聚乙烯重新熔融,然后再于125℃下等温结晶4h后,其片晶厚度则随辐照剂量的增加而变薄,长周期亦随之变短。小角X射线散射的测试结果与上述结果符合得很好。室温辐照聚乙烯及其125℃重结晶试样的电子显微镜数据从又一直观角度验证了辐照聚乙烯“片晶内部破坏机理”的正确性。

Identificador

http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/39751

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/164249

Idioma(s)

中文

Fonte

王国英;张皓瑜;姜炳政 .聚乙烯片晶辐照破坏机理的电子显微镜研究 ,高分子学报 ,1990,(2):188-192

Palavras-Chave #聚乙烯 #辐照效应 #透射电子显微镜 #小角X射线散射
Tipo

期刊论文