X-射线荧光光谱法分析面粉、大米中的微量元素


Autoria(s): 张启超; 王子尧; 贺春福; 任红星
Data(s)

1991

Resumo

本方法是将消解后的面粉和大米样品溶液滴加于粘贴在聚酯薄膜上的薄纸片上,用薄纸片来控制样品面积及富集被测元素,用于X-射线荧光光谱分析。该方法只用被测元素的标准溶液计算回归方程的系数,无需大量的标样,针对不同的元素选择不同的扣除背景的方法和不同的回归方程,使结果更准确。通过测定样品中的K、Ca、Mn、Zn、Fe、Cu、As、Se等元素,并与美国NBS标样参考值比较,结果基本一致。

Identificador

http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/39339

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/164043

Idioma(s)

中文

Fonte

张启超;王子尧;贺春福;任红星 .X-射线荧光光谱法分析面粉、大米中的微量元素 ,分析化学 ,1991,19 (9):1072-1074

Palavras-Chave #X-荧光光谱法 #植物样品 #微量元素
Tipo

期刊论文