高纯氧化钪中痕量稀土元素的电感耦合等离子体原子发射光谱分析和稀土元素间的光谱干扰及其校正


Autoria(s): 袁甫; 綦文娣
Data(s)

1991

Resumo

本文提出了用 ICP-AES 直接同时测定高纯氧化钪中15个痕量稀士元素的新方法。用PGS-2光栅光谱仪,Plasma Therm ICP-5000D 光源系统,乙醇预去溶进样方式,直接同时测定纯度为99.995%的高纯氧化钪中15个痕量稀土杂质元素,并讨论了稀土元素间的干扰及某些元素的光谱干扰的校正。当样品溶液中稀土总浓度为5mg/ml:时,测定下限为镧、钆、钬和铥0.0002%,镨、钕、铽和镥0.0004%,铕、镝、铒和钇0.0001%、镱0.00004%,铈和钐0.001%。其相对标准偏差为1.7~8.2%。

Identificador

http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/39155

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/163951

Idioma(s)

中文

Fonte

袁甫;綦文娣 .高纯氧化钪中痕量稀土元素的电感耦合等离子体原子发射光谱分析和稀土元素间的光谱干扰及其校正 ,分析化学 ,1991,19 (10 ):1158-1161

Palavras-Chave #氧化钪 #预去溶 #光谱干扰
Tipo

期刊论文