XRF聚酯薄膜-薄纸片法测定微量稀土元素

本方法是用贴在聚酯薄膜上的薄纸片来控制样品面积和富集被测元素,可用于绝对量的X射线荧光光谱分析,可测定比普通滤纸片法要求溶液浓度低50—100倍的样品溶液。该方法使用计算机进行谱线干扰校正、背景扣除,并使用最小二乘法进行线性回归。此方法具有快速、简便、灵敏、准确的特点。