高纯金属镨中痕量稀土杂质的电感耦合等离子体原子发射光谱分析及光谱干扰的校正

本文提出了PGS-2型平面光栅光谱仪（色散率0.18纳米，二级光谱）与Plasma Therm ICP-5000D射频发生器联用，乙醇预去溶方式进样，同时直接测定高纯金属镨中5个痕量稀土杂质元素的方法。并讨论了基体浓度对检出限的影响以及光谱干扰及其校正方法。当样品溶液中镨的浓度为5毫克/毫升时，测定下限分别为镧、钕和钐0.002%，铈0.003%和钇0.0005%。获得了良好的实验结果，并相对标准偏差为1.2-6.2%。