宽时域宽频域分子荧光寿命测试系统

设计组装了宽时域（１０－３ｓ～１０－９ｓ）和宽频域（激发波长几乎可以复盖３３７～８００ｎｍ波长）的激光光源分子荧光寿命测试系统。系统中配置了Ｎ２分子激光，Ｎｄ：ＹＡＧ激光及其泵浦的染料激光和美国ＥＧ＆Ｇ公司的４４００型信号检测和分析系统。通过对硫酸奎宁，荧蒽和稀土络合物典型样品的检测表明该仪器系统性能稳定，结果可靠。