稀土富勒烯电子结构的XPS研究


Autoria(s): 孙大勇; 李兴林; 徐文国; 刘淑莹
Data(s)

1998

Resumo

采用X射线光电子能谱(XPS)对富含稀土富勒烯Pr、Gd、Tb、Dy、Er@C2n的吡啶提取液的固态沉积膜进行了研究,检测到明确的稀土元素的XPS谱峰,表明富勒烯笼内嵌入的稀土元素具有特征的XPS谱峰。通过对谱峰的分析,发现稀土富勒烯具有较为稳定的结构。嵌入的Pr、Gd、Tb、Dy、Er等稀土元素与富勒烯球笼间存在电子的迁移。

Identificador

http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/23521

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/156495

Idioma(s)

中文

Fonte

孙大勇;李兴林;徐文国;刘淑莹.稀土富勒烯电子结构的XPS研究,分析测试学报,1998,17 (4 ):5-7

Palavras-Chave #稀土富勒烯 #X射线光电子能谱 #电子结构
Tipo

期刊论文