紫外可见分光光度法检测硫化镉(CdS)薄膜性质研究


Autoria(s): 王荣; 张铁强; 高春歌; 崔海宁
Data(s)

1998

Resumo

本文阐述了利用紫外可见分光光度法检测CdS薄膜光学性质的基本原理,设计了测试系统,并利用所设计的系统对化学水浴法沉积CdS薄膜的光谱透过率进行测试。通过对不同沉积时间的CdS薄膜的光学性能分析,得出其在一定温度条件下沉积时间对薄膜的光学性质有较大的影响。

Identificador

http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/23329

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/156399

Idioma(s)

中文

Fonte

王荣;张铁强;高春歌;崔海宁.紫外可见分光光度法检测硫化镉(CdS)薄膜性质研究,光电子·激光,1998,9(2 ):

Palavras-Chave #化学水浴法 #紫外可见分光光度法 #透过率
Tipo

期刊论文