TiAl反常屈服行为的电子理论


Autoria(s): 李文; 孔晓华
Data(s)

1999

Resumo

根据固体与分子经验电子理论(EET)在价电子结构层次系统地研究了TiAl的反常屈服行为(AYB)。由TiAl的价电子结构、键能和三种平面缺陷的能量联系TiAl的AYB的激活能分析了其位错钉扎机制。由于TiAl的反相畴界能量远大于简单层错的,TiAl的AYB是三种主位错交互作用引起的,同时孪生交割钉扎机制也有很大作用。也计算了温度升高直接导致的价电子结构变化,表明TiAl的AYB的本质原因是温度影响键结构导致的强化与弱化综合作用的结果,而短程有序度下降导致的“无序畴”形成起主要强化作用。最后对TiAl的AYB微观本质在不同层次做全面总结,并给出其他金属间化合物温度效应的一般规律.

Identificador

http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/22501

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/155985

Idioma(s)

中文

Fonte

李文; 孔晓华.TiAl反常屈服行为的电子理论,有色金属,1999,51(4):63-67

Palavras-Chave #TiAl #反常屈服行为 #价电子结构 #位错钉扎
Tipo

期刊论文