电感耦合等离子体质谱法测定高纯镉中的杂质元素

采用电感耦合等离子体质谱法测定高纯镉中的杂质元素。讨论了镉基体的谱线干扰，比较了镉基体产生的多原子离子的干扰程度，该干扰按Cdh、CdO、CdO2、CdAr、CdOH和CdOH2顺序递减。研究了不同浓度镉基体对分析物信号的抑制或增强效应，镉的浓度大于0.25·L-1时，对质量数小于100的分析物的信号强度产生抑制，而对质量数大于150的分析物的信号强度产生增强，采用89Y和209Bi作内标分别克服基体的抑制和增强效应。测定了高纯镉的As、Be、Co、Cu、Ga、Ge、Mn、Mo、Pb、Ni、Sr、Au、Tl、Th、V和U等16个杂质元素，方法的检测限0.005～0.052μｇ·L-1，标准加入回收率82%～108%。