有机锡化合物的光电子能谱和质谱研究Ⅲ
| Data(s) |
1999
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| Resumo |
本文利用光电子能谱(XPS)和质谱(MS)研究了12种有机锡化合物。通过XPS和MS讨论了化合物中取代基对锡内层电子的影响及对SnO键的影响。结果表明XPS和MS对有机锡化合物某些化学键性质的讨论具有互补性。 |
| Identificador | |
| Idioma(s) |
中文 |
| Fonte |
李兴林; 何晓智.有机锡化合物的光电子能谱和质谱研究Ⅲ,光谱学与光谱分析,1999,19(2 ):142-144 |
| Palavras-Chave | #XPS #MS #结合能 #电子云 |
| Tipo |
期刊论文 |
