扫描探针显微镜在纳米加工中的应用


Autoria(s): 孙旭平; 张柏林; 汪尔康
Data(s)

2003

Resumo

扫描探针显微镜不仅能对材料表面形貌进行原子级观测 ,还能够对单个的分子、原子及纳米粒子进行操纵。本文综述了扫描探针显微镜在纳米加工中对自组装单层膜的扫描探针刻蚀以及“蘸写笔”两方面的应用情况

Identificador

http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/17547

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/153076

Idioma(s)

中文

Fonte

孙旭平;张柏林;汪尔康.扫描探针显微镜在纳米加工中的应用,分析化学,2003,31(9):1127-1130

Palavras-Chave #扫描探针显微镜 #纳米加工 #应用 #评述
Tipo

期刊论文