电离辐射对Jurkat T细胞周期进程的影响

目的:探讨电离辐射诱导Jurkat T细胞损伤过程中细胞周期进程的变化规律。方法:采用流式细胞术(FCM)检测低剂量(0.075 Gy)和较大剂量(0.5、1.0、2.0、4.0及6.0 Gy)X射线照射后Jurkat T细胞周期进程变化的时间-效应关系和剂量-效应关系。结果:时间-效应关系研究发现,2.0 Gy X射线照射后JurkatT细胞相继发生S期延迟和G2期阻滞,S期细胞百分率于照射后立即增加(P<0.001),而G2+M期细胞百分率照射后8 h开始显著增加(P<0.001)。剂量-效应关系研究发现,75 mGy低剂量X射线照射即可诱导JurkatT细胞发生S期延迟(P<0.001)和G2期阻滞(P<0.05);0.5~6.0 Gy较大剂量X射线照射后,Jurkat T细胞发生S期延迟和G2期阻滞。与假照组相比较,G0/G1期细胞百分率显著降低(P<0.001),在0.5~6.0 Gy内具有剂量依赖性,而S期和G2+M期细胞百分率显著升高(P<0.05或P<0.001)。结论:X射线照射可以改变Jurkat T细胞周期进程,诱导其相继发生S期延迟和G2期阻滞,在0.5~6.0 Gy内具有剂量依赖性。