现场XRD法研究PAN长丝在低温热解过程中取向参数的变化

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Autoria(s): 赵根祥; 杨杰

Data(s)	2000
Identificador	http://ir.sxicc.ac.cn/handle/0/3666 http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/149907
Idioma(s)	中文
Fonte	赵根祥,杨杰.现场XRD法研究PAN长丝在低温热解过程中取向参数的变化.高分子材料科学与工程,2000,16(2):80-82
Tipo	期刊论文