VarBIFT:指令级的变量冗余容错检测技术


Autoria(s): 张显明; 张锐; 彭启民; 赵军锁
Data(s)

2010

Resumo

为了解决空间辐射对嵌入式计算机系统正确性的影响越来越明显的问题,基于典型的编译级容错技术,在编译器LCC上实现了基于有向无环图的编译级容错检测方法VarBIFT。该方法可以有效的保护由于粒子效应所引起的瞬时硬件故障,并可针对不同的目标机自动生成容错代码。实验结果表明,VarBIFT使源程序的平均段错误率从32.3%降到了13.9%,平均错误输出率从28.6%降到了9.2%;而其时间开销和空间开销仅为0.7%和36%。

Identificador

http://ir.iscas.ac.cn/handle/311060/9802

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/143592

Idioma(s)

中文

Fonte

张显明;张锐;彭启民;赵军锁.VarBIFT:指令级的变量冗余容错检测技术,计算机工程与设计,2010,31(10):2163-2165,2183

Palavras-Chave #Computer Science #软件容错 #编译 #可靠性 #瞬时错误 #嵌入式系统software fault tolerance #compilation #reliability #transient fault #embedded system
Tipo

期刊论文