C_(60)薄膜的荷能离子束辅照损伤效应的研究


Autoria(s): 杨茹
Contribuinte(s)

金运范

Data(s)

1998

Resumo

本文简要介绍了C60的基本属性,以及荷能离子与固体相互作用的基本理论,回顾了C60辐照损伤的国内外研究现状,重点描述了在中国科学院近代物理研究所的低能离子注入机及兰州重离子加速器(HIRFL)上完成的C60薄膜的辐照实验和辐照样品的拉曼谱、X光电子谱和X射线衍射谱分析。分析结果表明荷能离子的辐照破坏了C60的分子结构和晶体结构。我们用热峰模型解释了在电子能损起主导作用能区的实验现象,分析了电子能损与核能损在C60损伤建立过程中的作用,并通过与聚合物中辐照损伤结果比较,确定了C60辐照样品中,石墨成分和无序碳成分的产生及其随辐照剂量和能损值的变化规律。在此基础上,建立了C60辐照损伤的物理图像。

Identificador

http://ir.impcas.ac.cn/handle/113462/6932

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/133706

Idioma(s)

ch

Fonte

杨茹.C_(60)薄膜的荷能离子束辅照损伤效应的研究.[硕士 学位论文 ].中科院近代物理研究所 .1998

Palavras-Chave #电子能损 #核能损 #辅照损伤
Tipo

学位论文