He喷嘴带传输及X-γ符合测量装置
| Contribuinte(s) |
徐树威 |
|---|---|
| Data(s) |
30/06/1994
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| Resumo |
本文介绍了He喷嘴带传输及X-γ符合测量装置对重缺中子远离核作活性分离鉴别的基本原理和技术路线，以及该装置首次在本所在线完成的实验结果。通过对110 MeV ~(16)O+~(185)Re实验主要反应产物的测量，指定出~(195)Bi，~(196)Bi，~(192)Tl的半衰期分别为3.11 ± 0.30，4.39 ± 0.53和10.8 ± 1.8 Min，与文献报道一致，并根据母子体衰变平衡拐点Tm初步分析了~(195)Pb；在110 MeV ~(16)O+~(142)Nd实验中，首次测量了~(153)Er的EC/β~+衰变，得到其下列四条新γ线：188.6，352.3，400.0，451.6 KeV(±0.3KeV)，并指定其寿命值T_(1/2) = 35.3 ± 1.6 Sec，与文献报道的根据α衰变测得的半衰期36 ± 2 Sec一致 |
| Identificador | |
| Idioma(s) |
中文 |
| Fonte |
王以好.He喷嘴带传输及X-γ符合测量装置.[硕士学位论文].中科院近代物理研究所.1994Z |
| Palavras-Chave | #He喷嘴带传输技术 #X-γ符合测量 #EC/β~+衰变 #新γ线 #缺中子远离核 #半衰期 #DC/β~+ New γ-ray |
| Tipo |
学位论文 |
