高电荷态离子引起的富勒烯离子的碎裂研究


Autoria(s): 魏宝仁
Contribuinte(s)

马新文

Data(s)

2005

Resumo

在里昂第一大学原子物理平台上,采用静电离子阱技术,我们在三个激发能区内研究了高电荷态离子与富勒烯作用后C603”离子的稳定性及其碎裂方式。在56 kev的Ars+离子与富勒烯碰撞中,当碰撞参数很大时,稳定的C研离子被一个静电离子阱俘获,储存一段时间后存活的离子被探测器测量,实验结果显示C_16oll(l.=2-5)离子的损失主要是由于与剩余气体发生电荷交换,其相对于碎裂衰变过程的寿命大于400毫秒。在‘擦边碰撞,过程条件下,研究了处于低激发态的C60r+离子在20微秒内蒸发CZ分子的过程。基于考虑了热辐射的统计模型,给出了碰撞产生的C60r+离子的激发能的分布。随着碰撞参数的减小,当入射离子穿过C6。分子时,由于电子阻止使C6厂离子处于高激发态。通过测量发射电子数目,实验上确定了C60r+离子的初始电荷态,本工作分析了高激发态的C60r+离子碎裂前的电荷态与入射离子速度之间的关系,发现C60r”离子的碎裂方式只与它的初始电荷态有关,而与入射离子速度无关;同时,发射电子的个数可以用来表征C60什离子的激发能的大小

Identificador

http://ir.impcas.ac.cn/handle/113462/6614

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/133547

Idioma(s)

ch

Fonte

魏宝仁.高电荷态离子引起的富勒烯离子的碎裂研究.[博士 学位论文 ].中科院研究生院 .2005

Palavras-Chave #静电离子阱 #寿命 #蒸发 #激发机制 #入射离子速度
Tipo

学位论文