低能高电荷态离子与氦原子碰撞中的双电子过程研究

本工作采用散射离子位置灵敏探测和反冲离子飞摘．时问符合技术，在小于一300keV的能量范围内，研究了高电荷态Xe离子（q=15，17，19，21，23）与He原子碰撞中双电子转移截面与单电子转移截而比与入射离子电荷态的关系；研究了入射离子电荷态q＝4，5，6，7的等电荷态序列Cq＋、Nq＋、Oq＋、Neq＋与He原子碰撞中，电子转移截面比与入射离子原子序数的关系。对Xeq＋＋ He碰撞体系，主要研究了靶原子完全转移两个电子（σ2）与完全转移一个电子（σl）的截面比σ2／σl与入射离子电荷态的依赖关系。对靶原子双电子过程提出一步过程假定，修正了ECB模型。通过与已有绝对截面的比较，得到了很好的符合结果。使用修正模型计算的截面比解释了本实验的截面比测量结果。对等电荷态序列Cq＋、Nq＋、Oq＋、Neq＋与He原子的碰撞，主要研究了转移电离与单俘获截面比与入射离子原子序数的依赖关系。在统计模型的理论框架下，引入势能参数。Ω研究发现，等电荷序列的转移电离与单俘获截面比与碰撞系统的。有很强的依赖关系，说明单电子俘获形成的能量沉积是引起转移电离的主要因素。本工作还研究了势能参数几对碰撞系统的转移电离与双俘获之间的相互关系的影响。结果表明，。对转移电离和双俘获在靶原子双电子过程中的比率权重起着决定性作用。