中低能区He2++He碰撞反应转移电离机制研究


Autoria(s): 冯文天
Contribuinte(s)

马新文

Data(s)

01/07/2009

Resumo

反应显微成像谱仪能够对离子-原子碰撞反应中的末态产物进行运动学完 全测量。本论文基于反应显微成像谱仪对70-400keV He 2+ -He 碰撞中转移电离机 制进行了实验研究。 通过对不同出射角度电子的能谱研究表明, ECC电子和速度分布在0和入射 炮弹速度之间的“分子化”特征电子是出射电子能谱的主要贡献,前者是动力学 两步过程的作用,后者可由“准分子”激发模型给予定性解释,“鞍点电子”仅 是后者的一部分。通过对不同平面内出射电子的速度分布研究发现出射电子主要 集中在散射平面内,而且其速度分布介于0与炮弹速度之间且前向出射,同时在 炮弹与靶核核间轴处有一极小值;在入射离子能量较低时,出射电子空间分布较 为对称,随着入射离子能量的增加,出射电子逐渐靠近炮弹或靶核;与此同时, 由于 态电子与 态电子相互干涉,出射电子在散射平面内的分布还与碰撞参数 相关,在大碰撞参数下, 态电子的作用更加明显,而在小碰撞参数下 态电子 的作用更加显著。实验结果表明准分子激发和动力学两步过程是中低能He2+ -He 转移电离过程的两种主要机制。

Identificador

http://ir.impcas.ac.cn/handle/113462/395

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/133249

Idioma(s)

ch

Fonte

冯文天.中低能区He2++He碰撞反应转移电离机制研究.[博士 学位论文 ].中科院研究生院 .2009

Palavras-Chave #粒子物理与原子核物理 #反应显微成像谱仪 转移电离机制 散射平面 “分子化”特征电子  电子与 电子干涉
Tipo

学位论文