通过改变Si(Au)探测器灵敏区厚度鉴别带电粒子的方法及应用研究

重点研讨通过改变探测器偏压，进而改变探测器的ＰＮ 结（有效探测灵敏区）厚度，实现对带电粒子的种类和能量鉴别的实验方法及其实际应用。实验测量了３ＭｅＶ质子和６．０５ＭｅＶ α粒子在金硅面垒探测器Ｓｉ（Ａｕ）中的能损与探测器偏压关系曲线。同时利用刻度过的探测器鉴别氘离子束轰击氘钛（ＴｉＤＸ）靶发射的带电粒子能谱。在很强的本底情况下通过调节探测器偏压（灵敏区厚度）实现了对能量相近的不同带电粒子的有效鉴别和测量。