C-N化合物合成研究


Autoria(s): 谢二庆,金运范,王志光,贺德衍
Data(s)

30/09/2000

Resumo

用能量 50 - 1 1 0 ke V的 N离子在低于 80°C温度下注入 CVD法合成的金刚石薄膜后 ,分别用 X射线光电子谱、红外谱和拉曼谱检测注入后的薄膜中是否形成了 C- N化合物 .结果表明注入后的薄膜中存在有 3种化学键态的 C- N化合物 ,且低能离子注入更有利于 C- N化合物的形成 .由于在注入区内形成了大量的 C- N单键 ,这有利于β- C3N4 的合成 .对 C- N化合物薄膜的场发射特性也做了研究

Identificador

http://ir.impcas.ac.cn/handle/113462/5029

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/131851

Idioma(s)

中文

Fonte

谢二庆,金运范,王志光,贺德衍.C-N化合物合成研究, 原子核物理评论, 2000-09-30, 2000( 03):171-174

Palavras-Chave #离子注入 #金刚石薄膜 #碳氮化合物
Tipo

期刊论文