高能Ar离子辐照PET膜引起的表面改性研究


Autoria(s): 刘昌龙,金运范,孙友梅,朱智勇,侯明东,王志光,张崇宏,陈晓曦,王衍斌,刘杰,李保权
Data(s)

10/01/2001

Resumo

采用傅立叶转换的红外光吸收技术在反射方式下分析研究了 35MeV/uAr离子辐照半晶质PET膜引起的表面改性及其对吸收剂量的依赖性。结果表明 ,辐照导致PET膜中与晶态区域相关的吸收带强度随吸收剂量增加普遍减弱 ,而与非晶区域相关的吸收带强度随吸收剂量增加逐渐增加 ,表明辐照使PET膜发生了非晶化转变。化学键断裂主要发生在苯环的对位和酯的C—O键上 ,而苯环的基本结构在整个辐照过程中变化较小。非晶化效应和化学键断裂同时依赖于离子的照射剂量和样品表面的电子能量沉积。此外 ,在约 5.0MGy以上的吸收剂量 ,辐照还引起了炔端基团的形成 ,炔端基团浓度随吸收剂量的增加显著增加。对实验结果进行了定性解释。

Identificador

http://ir.impcas.ac.cn/handle/113462/4933

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/131751

Idioma(s)

中文

Fonte

刘昌龙,金运范,孙友梅,朱智勇,侯明东,王志光,张崇宏,陈晓曦,王衍斌,刘杰,李保权.高能Ar离子辐照PET膜引起的表面改性研究, 核技术, 2001-01-10, 2001( 01):6-12

Palavras-Chave #Ar离子辐照 #PET #非晶化 #断键 #吸收剂量
Tipo

期刊论文