镍电解液痕量元素的全反射X射线荧光分析
| Data(s) |
10/03/2001
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| Resumo |
介绍了全反射X射线荧光分析 (TXRFS)技术在日常分析中的应用可行性。在一个被分析的镍电解液中 ,测出痕量元素Zn和Pb的浓度分别为 0 .1ng/μL和 3.5ng/μL。 |
| Identificador | |
| Idioma(s) |
中文 |
| Fonte |
李振坤,王志国,郝冀方.镍电解液痕量元素的全反射X射线荧光分析, 核技术, 2001-03-10, 2001( 03):199-204 |
| Palavras-Chave | #全反射X射线荧光谱学 #镍电解液 #痕量元素定量分析 |
| Tipo |
期刊论文 |
