质子滴线核~(12)N在~(28)Si靶上的核反应总截面测量
| Data(s) |
12/04/2001
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| Resumo |
描述了 5 0 .4MeV/u的12 N和 42 .3MeV/u的13 N次级放射性束在2 8Si靶上引起的核反应总截面σr 实验研究 ,结果发现12 N的反应总截面σr 比其相邻同位素核13 N有着异常的增大 .这可能是核形变及核子对效应造成的 ,试验中的测量误差也不可忽视 .利用微观Glauber模型计算了12 N在2 8Si靶上的核反应总截面 ,并与实验结果做了比较 ,发现理论计算与实验结果拟合较好 |
| Identificador | |
| Idioma(s) |
中文 |
| Fonte |
宁振江,李加兴,郭忠言,詹文龙,王建松,肖国青,王全进,王金川,王猛,王建峰,陈志强.质子滴线核~(12)N在~(28)Si靶上的核反应总截面测量, 物理学报, 2001-04-12, 2001( 04):644-648 |
| Palavras-Chave | #质子晕 #反应截面 |
| Tipo |
期刊论文 |
