β~+延发粒子衰变的一种在束测量方法


Autoria(s): 王宏伟,肖志刚,吴和宇,段利敏,张保国,靳根明,李祖玉,魏志勇,柳永英,王素芳,卢朝晖,陈克良,胡荣江,朱海东,岑玲,李湘庆,陈陶,华辉
Data(s)

20/11/2001

Resumo

报道了一种在束测量β+ 延发粒子的方法。由新建成的兰州放射性次级束流线 (RIBLL )提供的2 0 Na次级束 ,利用飞行时间 (TOF)和能损 (ΔE)符合的方法实现 2 0 Na次级束流的在束鉴别与调制。将数据获取过程分为有束和停束两个获取时段 ,分别完成对次级束流和β+ 延发粒子的记录。同时利用脉冲发生器和计数器实现2 0 Na延发粒子衰变半衰期的测量

Identificador

http://ir.impcas.ac.cn/handle/113462/4615

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/131428

Idioma(s)

中文

Fonte

王宏伟,肖志刚,吴和宇,段利敏,张保国,靳根明,李祖玉,魏志勇,柳永英,王素芳,卢朝晖,陈克良,胡荣江,朱海东,岑玲,李湘庆,陈陶,华辉.β~+延发粒子衰变的一种在束测量方法, 核电子学与探测技术, 2001-11-20, 2001( 06):417-419+439

Palavras-Chave #次级束流线 #β+延发粒子衰变 #飞行时间 #能损 #半衰期
Tipo

期刊论文