快重离子在石墨中引起表面及体径迹的STM研究


Autoria(s): 刘杰,R.Neumann,C.Trautmann,C.Müller,侯明东,金运范
Data(s)

10/07/2002

Resumo

用多种快重离子辐照高定向石墨 (HOPG) ,借助扫描隧道显微镜 (STM )系统地研究了表面及体内缺陷。结果表明 ,离子在表面及解理面上都形成了小丘状的缺陷 ,且在表面较容易形成 ,可以用非连续损伤径迹结构来对其进行解释

Identificador

http://ir.impcas.ac.cn/handle/113462/4419

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/131227

Idioma(s)

中文

Fonte

刘杰,R.Neumann,C.Trautmann,C.Müller,侯明东,金运范.快重离子在石墨中引起表面及体径迹的STM研究, 核技术, 2002-07-10, 2002( 07):501-505

Palavras-Chave #重离子 #高定向石墨 #扫描隧道显微镜 #辐射损伤 #径迹
Tipo

期刊论文