~(131)Ce激发态的寿命测量

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Autoria(s): 李广生

Data(s)	15/06/2003
Identificador	http://ir.impcas.ac.cn/handle/113462/4155 http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/130865
Idioma(s)	中文
Fonte	李广生.~(131)Ce激发态的寿命测量, 中国原子能科学研究院年报, 2003-06-15, 2003( 00):44
Palavras-Chave	#寿命测量:6545 #激发态:5386 #物理学院:3965 #吉林大学:1782 #能级寿命:1598 #高自旋态:1568 #四极矩:1251 #HI-13串列加速器:1130 #多普勒展宽:857 #多普勒移动:806
Tipo	期刊论文