快重离子辐照C_(60)薄膜的强电子激发效应研究
| Data(s) |
21/07/2004
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|---|---|
| Resumo |
利用能量为 2 0GeV的13 6Xe和 2 7GeV的2 3 8U离子对C60 薄膜进行了辐照 ,并用傅立叶变换红外光谱、X射线衍射谱和拉曼散射技术分析了辐照过的C60 样品 ,在傅立叶变换红外光谱上 ,首次观察到一个位于 6 70cm-1处的 ,表征未知结构的新峰 ,研究了其强度随电子能损和辐照剂量的变化规律 .分析结果表明 ,电子能量转移主导了C60 薄膜的损伤过程 ;而损伤的部分恢复是由强电子激发的退火效应引起的 ;另外 ,离子的速度在损伤的建立过程中也起了一定的作用 |
| Identificador | |
| Idioma(s) |
中文 |
| Fonte |
金运范,田惠贤,刘杰,谢二庆,王志光,张崇宏,孙友梅,朱智勇,姚存峰.快重离子辐照C_(60)薄膜的强电子激发效应研究, 高能物理与核物理, 2004-07-21, 2004( 07):781-785 |
| Palavras-Chave | #强电子激发效应 #快重离子 #C60薄膜 #退火效应 |
| Tipo |
期刊论文 |
