硅多条探测器性能测试


Autoria(s): 袁小华,胡荣江,王宏伟,段利敏,谭继廉,李松林,靳根明,徐瑚珊
Data(s)

20/05/2005

Resumo

介绍了对一种由近代物理研究所和北京大学联合研制的硅多条探测器性能测试的结果。具体测试内容包括:探测器的能量分辨率、Al面厚度以及探测器各条间的cross-talk(相互影响)。同时,也对进口的Canberra有确定标称的硅多条探测器做了类似的测试,并进行了性能对比。

Identificador

http://ir.impcas.ac.cn/handle/113462/3529

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/129899

Idioma(s)

中文

Fonte

袁小华,胡荣江,王宏伟,段利敏,谭继廉,李松林,靳根明,徐瑚珊.硅多条探测器性能测试, 核电子学与探测技术, 2005-05-20, 2005( 03):259-263

Palavras-Chave #硅多条探测器 #能量分辨率 #cross-talk
Tipo

期刊论文