低能Ar~(3+)+Ar碰撞反应过程实验研究


Autoria(s): 李斌; 马新文; 朱小龙; 刘惠萍; 许慎跃; 张少峰; 冯文天; 沙杉; 钱东斌; 陈兰芳; 曹士娉; 魏宝仁
Data(s)

20/08/2006

Resumo

测量了入射离子能量为27 keV、45 keV和66 keV时Ar3++Ar碰撞反应各子过程的分截面,通过将其归一化到Bliman,Dousson等人所测量的截面值,获得了绝对截面.结果表明,该能区电子俘获过程仍占主导地位,但转移电离过程已不能忽略.结果还表明,各子过程反应截面基本不随能量变化.与考虑自电离的MCBM(Molecular Coulombic overBarrier Model)模型比较发现,模型所给截面普遍高于实验测量值,这在一定程度上是由于归一化时带来的系统误差.在误差允许的范围内,单电子和双电子俘获截面符合的比较好,但三电子俘获截面却相差一个数量级.对于实验观测到的转移电离过程,模型却预言并没有此过程发生.

Identificador

http://ir.impcas.ac.cn/handle/113462/3043

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/129209

Idioma(s)

中文

Fonte

李斌;马新文;朱小龙;刘惠萍;许慎跃;张少峰;冯文天;沙杉;钱东斌;陈兰芳;曹士娉;魏宝仁;.低能Ar~(3+)+Ar碰撞反应过程实验研究, 原子与分子物理学报, 2006-08-20, 2006( 04):631-635

Palavras-Chave #碰撞反应 #截面 #转移电离 #MCBM模型
Tipo

期刊论文