高电荷态离子引起的富勒烯离子的碎裂
Data(s) |
20/03/2007
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Resumo |
离子在与富勒烯的相互作用过程中会导致C60分子的激发。处于低激发态的C60r+离子通过发射中性C2分子或带电的轻团簇碎片Cn+等非对称碎裂方式来耗散激发能,但如果激发能很高,笼形的C60r+离子可能会彻底崩溃,而发生多重碎裂。C60r+离子的碎裂过程与其电荷态r及分裂势垒密切相关。低电荷态的C60r+(r≤3)离子蒸发一个C2分子需要克服10.3 eV左右的势垒。随着电荷态的升高,发射带电的Cn+会变得越来越容易,并逐渐过渡到多重碎裂过程。另一方面,C60r+离子的碎裂机制还与激发方式有关,在直接正碰过程中,将C60分子当作固体薄靶来处理,通过分析不同价态的C60r+离子的碎片谱,发现母核的初始电荷态决定碎裂方式,由此获得一个可以表征激发能大小的可观测量——发射电子个数。 |
Identificador | |
Idioma(s) |
中文 |
Fonte |
魏宝仁;马新文;钱东斌;.高电荷态离子引起的富勒烯离子的碎裂, 物理学进展, 2007-03-20, 2007( 01):9-33 |
Palavras-Chave | #富勒烯 #高电荷态离子 #蒸发势垒 #碎裂机制 #激发方式 |
Tipo |
期刊论文 |