近阈值下He原子的双电子电离实验中出射电子研究


Autoria(s): 曹士娉; 马新文; A.Dorn; M.Dürr; J.Ullrich
Data(s)

15/11/2007

Resumo

利用适用于低能电子入射的反应显微成像谱仪,对电子入射He原子近阈值下的双电离过程进行了研究,实验测量了反应后3个粒子的全部动量,获得了出射电子间的关联信息.主要介绍近阈值下的双电离实验装置及实验技术,集中分析反应后出射电子的动量能量关系,对描述近阈值双电离的Wannier理论进行了检验,发现在入射电子能量为106eV时,实验结果具有Wannier理论预言的性质.

Identificador

http://ir.impcas.ac.cn/handle/113462/2621

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/128750

Idioma(s)

中文

Fonte

曹士娉;马新文;A.Dorn;M.Dürr;J.Ullrich;.近阈值下He原子的双电子电离实验中出射电子研究, 物理学报, 2007-11-15, 2007( 11):6386-6392

Palavras-Chave #近阈值He原子的双电离 #反应显微成像谱仪 #电子入射电离
Tipo

期刊论文