CSRm内靶实验中的轻离子束流寿命模拟研究


Autoria(s): 张雪荧; 徐瑚珊; 孙志宇; 胡正国; 张宏斌
Data(s)

15/06/2008

Resumo

建立了内靶对兰州冷却储存环主环束流影响的单粒子跟踪模拟程序,对pellet小丸靶和碳靶对束流带来的负面影响进行了模拟研究,主要讨论CSRm内靶实验中的束流存活率和束流寿命状态。结果显示利用厚度为1×1016atoms.cm-2小丸内靶时,2.6 GeV质子束流寿命在100 s量级,而对于目前技术水平下的碳膜靶(厚度为5×1017atoms.cm-2),质子束流寿命为s量级;束流寿命和束流能量基本成正比关系,束流寿命和内靶厚度近似成反比关系。

Identificador

http://ir.impcas.ac.cn/handle/113462/2447

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/128564

Idioma(s)

中文

Fonte

张雪荧;徐瑚珊;孙志宇;胡正国;张宏斌;.CSRm内靶实验中的轻离子束流寿命模拟研究, 强激光与粒子束, 2008-06-15, 2008( 06):1011-1016

Palavras-Chave #束流寿命 #CSR主环 #内靶 #束流发射度 #接收度 #蒙特-卡罗模拟
Tipo

期刊论文