MBE[（AlxGa（1-x）As）l（GaAs）m]n/GaAs（001）超晶格结构参数的X射线双晶衍射测量研究

---

Autoria(s): 姜力; 吴苍生; 王玉田; 高维宾

Data(s)	1989
Identificador	http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/20555 http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/104915
Idioma(s)	中文
Fonte	姜力;吴苍生;王玉田;高维宾.MBE[（AlxGa（1-x）As）l（GaAs）m]n/GaAs（001）超晶格结构参数的X射线双晶衍射测量研究,半导体学报,1989,10(2):86
Palavras-Chave	#半导体物理
Tipo	期刊论文