不同介质膜的InP MIS结构界面陷阱的研究


Autoria(s): 卢励吾; 周洁; 瞿伟; 张盛廉
Data(s)

1992

Resumo

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中科院半导体所

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/20231

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/104753

Idioma(s)

中文

Fonte

卢励吾;周洁;瞿伟;张盛廉.不同介质膜的InP MIS结构界面陷阱的研究,半导体学报,1992,13(4):225

Palavras-Chave #半导体材料
Tipo

期刊论文