蓝宝石上硅膜(SOS)肖特基结注入电流检测的电子自旋共振及Si/Al2O3界面缺陷


Autoria(s): 傅济时; 吴恩; 秦国刚; 朱美栋; 郁元桓
Data(s)

1993

Resumo

国家自然科学基金

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/20133

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/104704

Idioma(s)

中文

Fonte

傅济时;吴恩;秦国刚;朱美栋;郁元桓.蓝宝石上硅膜(SOS)肖特基结注入电流检测的电子自旋共振及Si/Al2O3界面缺陷,半导体学报,1993,14(11):712

Palavras-Chave #半导体物理
Tipo

期刊论文