a-Si∶H中光致亚稳缺陷产生的弛豫过程:HCR和DCR模型的实验检验
| Data(s) |
1993
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|---|---|
| Resumo |
国家自然科学基金 |
| Identificador | |
| Idioma(s) |
中文 |
| Fonte |
刘国胜;孔光临.a-Si∶H中光致亚稳缺陷产生的弛豫过程:HCR和DCR模型的实验检验,半导体学报,1993,14(5):325 |
| Palavras-Chave | #半导体物理 |
| Tipo |
期刊论文 |
