Si（112）高密勒指数面的理论研究
| Data(s) |
1993
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|---|---|
| Resumo |
于2010-11-23批量导入 zhangdi于2010-11-23 13:15:04导入数据到SEMI-IR的IR Made available in DSpace on 2010-11-23T05:15:04Z (GMT). No. of bitstreams: 1 6163.pdf: 165793 bytes, checksum: d41bdb0d7344ffc4735d8588974f71df (MD5) Previous issue date: 1993 山东大学;中科院半导体所 |
| Identificador | |
| Idioma(s) |
中文 |
| Fonte |
张瑞勤;吴汲安;邢益荣.Si（112）高密勒指数面的理论研究,半导体学报,1993,14(9):527 |
| Palavras-Chave | #半导体物理 |
| Tipo |
期刊论文 |
