P-InP MIS结构界面陷阱的深能级研究

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Autoria(s): 卢励吾; 周洁; 瞿伟; 张盛廉

Data(s)	1993
Identificador	http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/20079 http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/104677
Idioma(s)	中文
Fonte	卢励吾;周洁;瞿伟;张盛廉.P-InP MIS结构界面陷阱的深能级研究,电子学报,1993,21(11):72
Palavras-Chave	#半导体材料
Tipo	期刊论文