GaAs中氧的SIMS相对灵敏度因子的测定


Autoria(s): 陈春华; 陈新; 王佑祥; 姜志雄
Data(s)

1995

Resumo

介绍了用离子注入标样测定GaAs中氧的SIMS相对灵敏度因子的方法,并将实验数据进行离子计数-浓度,溅射时间-深度转换后求得的特征值(C_(max)、R_p、ΔR_p)等与理论计算值进行比较,二者符合较好,其中C_(max)的SIMS测量值同LSS理论计算值和Monte Carlo模拟计算值之间的平均偏差分别为9%和27%。最后,对几种GaAs基的材料和器件进行氧的定量分析,获得了有益的结果。

国家自然科学基金

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/19815

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/104545

Idioma(s)

中文

Fonte

陈春华;陈新;王佑祥;姜志雄.GaAs中氧的SIMS相对灵敏度因子的测定,半导体学报,1995,16(10):747

Palavras-Chave #半导体材料
Tipo

期刊论文