HEMT材料的电子辐射效应


Autoria(s): 林理彬; 李有梅; 陈卫东; 蒋锦江; 孙梅影
Data(s)

1995

Resumo

用能量为1~1.8MeV、注量为10~13~10~17/cm~2的电子, 对HEMT(高电子迁移率晶体管)材料进行辐照, 得到了材料结构中的二维电子气(2DEG)的电输运性质随辐照电子能量和注量的变化关系, 并进行了讨论。还将该结果与电子辐照P-HEMT和LT-HEMT材料的结果进行了比较, 对异质结界面的辐照效应进行了分析。

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/19755

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/104515

Idioma(s)

中文

Fonte

林理彬;李有梅;陈卫东;蒋锦江;孙梅影.HEMT材料的电子辐射效应,四川大学学报. 自然科学版,1995,32(1):39

Palavras-Chave #半导体材料
Tipo

期刊论文