研究半导体超晶格界面粗糙的X射线双晶Pendellosung方法
| Data(s) |
1995
|
|---|---|
| Resumo |
运用高精度X射线双晶衍射仪对GeSe/Si应变超晶格进行了分析研究,实验上观测到在卫星峰之间存在着干涉条纹(Pendellosung)。建立了界面的随机概率模型,结合计算机模拟发现: Pendellosung条纹对界面的粗糙十分敏感,当界面粗糙度较小时,只影响Pendellosung条纹的规则排列,而当粗糙度较大时,不仅使Pendellosung条纹强度下降,规则排列受到破坏,并且还将导致高级卫星峰强度下降,峰形严重宽化。 运用高精度X射线双晶衍射仪对GeSe/Si应变超晶格进行了分析研究,实验上观测到在卫星峰之间存在着干涉条纹(Pendellosung)。建立了界面的随机概率模型,结合计算机模拟发现: Pendellosung条纹对界面的粗糙十分敏感,当界面粗糙度较小时,只影响Pendellosung条纹的规则排列,而当粗糙度较大时,不仅使Pendellosung条纹强度下降,规则排列受到破坏,并且还将导致高级卫星峰强度下降,峰形严重宽化。 于2010-11-23批量导入 zhangdi于2010-11-23 13:13:53导入数据到SEMI-IR的IR Made available in DSpace on 2010-11-23T05:13:53Z (GMT). No. of bitstreams: 1 5970.pdf: 455713 bytes, checksum: 36494b1ff31217dcc44f3d5ab319ef5f (MD5) Previous issue date: 1995 中科院半导体所;南开大学物理系 |
| Identificador | |
| Idioma(s) |
中文 |
| Fonte |
庄岩;王玉田;潘士宏.研究半导体超晶格界面粗糙的X射线双晶Pendellosung方法,物理学报,1995,44(7):1073 |
| Palavras-Chave | #半导体物理 |
| Tipo |
期刊论文 |
