一个检测半导体激光器质量的有效方法
| Data(s) |
1996
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|---|---|
| Resumo |
对一百支PBC结构的InGaAsP/InP激光器的检测表明,通过变温的电导数及热阻测试给出的参数及参数随温度的变化可对半导体激光器有效地进行质量评价和可靠性筛选. |
| Identificador | |
| Idioma(s) |
中文 |
| Fonte |
石家纬;金恩顺;李红岩;李正庭;郭树旭;高鼎三;余金中;郭良.一个检测半导体激光器质量的有效方法,半导体学报,1996,17(8):595 |
| Palavras-Chave | #半导体器件 |
| Tipo |
期刊论文 |
